Zbuloni sekretet e detektorit të panelit të sheshtë me rreze X, një pajisje e vogël që ka revolucionarizuar cilësinë e figurës për aplikimet industriale. Qoftë në fushat industriale, mjekësore apo dentare, detektorët e panelit të sheshtë me teknologji amorfe silikoni janë bërë standardi për CBCT dhe imazhe panoramike.
Avantazhi i teknologjisë amorfe silikoni qëndron në aftësinë e tij për të kthyer imazhe me rreze X në imazhe të dukshme për të siguruar rezultate elektronike për sistemet me rreze X. Kjo teknologji është e përshtatshme për fluoroskopinë me rreze X dhe imazhin me rreze X, zbulimin e menjëhershëm, të përdorur gjerësisht në produktet elektronike, përbërësit elektronikë, pjesët e injektimit dhe testimet e tjera industriale jo destruktive.
Përmbledhje e Specifikimeve Teknike:
Kategoria e detektorit: Silicon amorf
Scintillator: CSI GOS
Madhësia e figurës: 160 × 130 mm
Matrica e pikselit: 1274 × 1024
Pixel Pitch: 125 μm
Konvertimi A/D: 16 bit
Ndjeshmëria: 1.4LSB/ng, RQA5
Doza lineare: 40ugy, rqa5
Funksioni i transferimit të modulimit @ 0.5lp /mm: 0.60
Funksioni i transferimit të modulimit @ 1.0 LP/mm: 0.36
Funksioni i transferimit të modulimit @ 2.0 LP/mm: 0.16
Funksioni i transferimit të modulimit @ 3.0 LP/mm: 0.08
Imazhi i mbetur: 300ugy, 60, %
Këto parametra sigurojnë që detektori mund të sigurojë imazhe me cilësi të lartë në një larmi aplikimesh, qoftë inspektimi industrial ose diagnostikimi mjekësor, për të përmbushur nevojat e përdoruesve.
Koha e postimit: Mar-15-2025